2013年10月発行

祝辞

• 「IIC REVIEW」第50号発刊のお祝いとIICへの期待
• • 株式会社IHI 代表取締役副社長　出川 定男

巻頭言

• 勝つ組織集団を目指して
• • 株式会社IHI 執行役員 高度情報マネジメント統括本部長　菅 泰三

技術解説

• アコースティック・エミッション試験に関する規格の動向
• • 検査事業部 技術部　中村 英之

技術紹介

• 高温機器部材におけるクリープ損傷と残留応力 (内部応力) の関係
• • 研究開発センター　中代 雅士

• 穿孔法による残留応力測定技術の検証試験 (薄肉試験体の場合)
• • 技師長　三上 隆男
  • 計測事業部 計測技術部　松田 昌悟
  • 計測事業部 材料試験部　高久 泰弘

• フィールド検査に適したMobile EDDyの紹介とPOD解析
• • 検査事業部 技術部　戸部 訓子
  • 検査事業部 技術部　高橋 秀治
  • 検査事業部 技術部　藤原 貢
  • 計測事業部 材料試験部　吉川 和夫
  • 検査事業部 横浜検査部　田北 雅彦
  • 技師長　細谷 昌厚

• 国際規格に準拠した機械試験
• • 計測事業部 材料試験部　佐藤 浩幸
  • 計測事業部 材料試験部　鈴木 健次

• 巨大地震を想定した耐震性能試験
• • 計測事業部 試験プロジェクト部　片岡 威

製品紹介

• キャニスターローディング装置
• • ジャプス事業部 技術部　佐浦 毅
  • ジャプス事業部 技術部　寺田 直広

設備紹介

• ハンドヘルド型蛍光X線分析法によるPMI検査
• • 計測事業部 化学環境部　高橋 剛

報告

• 富山県ものづくり研究開発センター内サテライトオフィスの設置
• • 機器装置事業部　大脇 桂
  • 営業統括部　田中 聡史

随想

• IIC REVIEW 50号発刊を祝う
• • 社友・元代表取締役社長　大谷 正夫