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材料試験

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現地計測 - X線による応力測定

X線を材料に入射させ、その反射X線回析角度から結晶格子定数を求めれば、対象とする原子が判りますが、逆に材料が明らかになっている場合には、格子定数のズレから材料、部材に負荷されている応力が計測できます。当社では、このX線応力計測器の販売、計測サービスを実施しています。装置は小型軽量であり、現場に持参して実機の応力を非破壊で計測できます。

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X線回折法は、残留応力測定に多年の実績をもつ定評ある測定法です。
この方法は標準となる"長さ"に結晶格子面間隔を用いますから、すべての多結晶性物質を測定することができます。

新開発のX線応力測定器Xstress 3000は、被計測物にきわめて微量のX線を露光して残留応力を測定する"露光検出技術"が最大の特長、最新の半導体技術で、計測の自動化と装置のポータブル化を追求した新世代のX線応力測定器です。

注)当社は、Stresstech Oy (フィンランド) の日本における輸入販売総代理店として、本装置を販売しています。

  • 産業用ロボット、NCマシン等の定期点検・メンテナンスに
  • 各種産業機械の定期点検・メンテナンスに
  • 研究所、大学、専門学校等の研究装置として
  • 原子カ発電所、圧カ容器のメンテナンスに
  • 火力・水力発電所夕一ビンのメンテナンスに
  • 宇宙開発関連設備のメンテナンスに
  • 半導体基板の残留応力測定に
  • その他、溶接構造物のメンテナンスに
  • 高精度
    2つの検出器を用いて測定するため、すべての試験結果は独立した2つの測定系の平均値で得られる。 α相とγ相を同時計測、残留オーステナイトも即時に測定可能。
  • 高速計測
    回折ピークを2〜8秒で記録するほどの高速計測を実現
  • 超コンパクト
    光検出器べ一スのゴニオメーターは超コンパクトで、現場への持ち運びがきわめて容易
  • すぐれた操作性
    最新のコンピュータ技術により高度に自動化されており、柔軟な操作性を実現
  • 安全性
    囲いのない関放状態でX線を操作できるすぐれた安全性を実現
  • すぐれた移動性
    すべての機器をキャスター付き力一トに搭載して、移動性の容易さを実現

4点曲げによるひずみゲージ法による応力計測とX線による応力計測の関係
ひずみゲージ法とX線による応力測定結果の比較(X線で応力が計れる)

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技術資料お問合せ先
技術資料に関するご質問、お問い合せ事項がございましたら、
下記へ御連絡お願いします。

営業統括部 TEL: 03-6404-6033 FAX: 03-6404-6044
計測事業部 TEL: 045-791-3519 FAX: 045-791-3542
技術的な内容に関するご質問等については、RES Q&A にてお願いします。

株式会社 IHI 検査計測 http://www.iic-hq.co.jp/
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