現地材料判定(PMI)
現地での材料判定で異材を間違えて使用する事故などを防ぐために必要な計測技術です。
IHI検査計測(IIC)では、〈発光分光分析〉と〈蛍光X線分析〉の両方を実施することが可能です。
発光分光分析(微量の炭素量の分析もできます)
発光分光分析法は材料表面にスパーク放電を起こし表面の元素が励起されて発行します。そのスペクトルを分析することで表面元素の組成を分析します。この方法では炭素の定量ができるのでローカーボン材(SUS304Lなど)がL材かどうかの判別が可能です。
発光痕が残るので、分析の証跡となります。また、分析精度も蛍光X線分析法よりも優れています。
装置外観
測定状況
蛍光X線分析
蛍光X線分析法は検査対象の表面にX線を照射すると、試料表面に存在する元素から特性X線が発生します。その特性X線のエネルギーを分析することによって、表面元素の組成を分析します。分析は1分以内に完了します。
検査痕は残りません。また、炭素の定量はできないのでローカーボンかどうかの判別はできません。